2025年10月29日星期三 13:50-14:10

演讲题目：《异构集成驱动新一代数字测试解决方案》

葛樑先生主要负责业务发展和测试技术架构部门，主管SoC测试领域新技术和新业务的方案实施和市场拓展。其在半导体测试行业有超过20年工作经验，长期从事芯片ATE测试相关的研发、应用和市场工作。

演讲摘要：

随着半导体技术的发展，异构集成作为提升芯片性能、降低成本的关键路径，正引领着行业变革。本报告聚焦于异构集成驱动下新一代数字测试解决方案。首先阐述异构集成通过将不同功能、工艺的芯片（Chiplet）组合，带来显著性能提升，但异构集成也引发了测试挑战，为应对挑战，新一代数字测试解决方案不断涌现，数字扫描（Scan）测试技术在保障芯片质量与可靠性方面发挥着关键作用，并持续演进。扫描链组网技术和扫描链加速技术 使扫描测试并行度增加，数据带宽增加，大幅提高测试效率。